Обложка книги Основы сканирующей зондовой микроскопии

Основы сканирующей зондовой микроскопии

ISBN: 5-94836-034-2; 5-94619-113-6;
Серия:
Издательство: Техносфера
Страниц: 144

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.