Обложка книги Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

,

ISBN: 5-94836-018-0; 0-471-98501-5; 9780471985013;
Серия:
Издательство: Техносфера
Страниц: 384

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.